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FIB载网
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聚焦离子束专用载网。通过FIB或SEM/FIB系统对样品进行处理。载网上的齿针为样品提供良好的支撑,下部的编号在TEM下可准确定位样品。
Omniprobe® Short-Cut™ 载网 Omniprobe® Short-Cut™ 载网专用于FIB。厚度为200μm。45°专用于FEI,26.5°专用于ZEISS及JEOL。材质为Cu或者是在铜表面喷镀厚度为1μm的钼已降低分析应用时铜产生的信号
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